+表面轮廓仪 Profiler---应用在半导体、分立器件、科研院所实验室膜厚台阶测试制程,涵盖2-4英寸晶圆 +扫描电子显微镜 SEM---普通(钨灯丝,场发射),聚焦离子束电镜
+分析性探针台 +全光谱反射式膜厚测量仪
+椭偏仪----单波长、全波长 +接触角测量仪
Pic.1 Pic.2
+干涉仪
+接触角,表面张力分析仪 +IC测试座
+分立器件测试分选机 +大功率TO系列测试分选机
+Gravity Test Handler +Pick & Place Handler
+紫外线功率计 +光刻曝光分析仪器
+离子注入剂量检测机 +芯片厚度测试仪 
+热阻测试系统  +电射切割机